透射電鏡方法是利用透射電鏡對(duì)樣品的結(jié)構(gòu)和性能進(jìn)行研究的方法。透射電鏡的工作原理與光學(xué)透射顯微鏡相同，只是用電子束替代了光束，用磁聚焦的電子透鏡替代了玻璃透鏡，而電子成像顯示于熒光屏上。電子束具有波動(dòng)性，被加速了的電子束其波長約為光波的10萬分之一，而且有強(qiáng)的穿透力。透射電鏡有以下3種：
 

　　1.大型透射電鏡
 

　　大型透射電鏡(conventional TEM)一般采用80-300kV電子束加速電壓，不同型號(hào)對(duì)應(yīng)不同的電子束加速電壓，其分辨率與電子束加速電壓相關(guān)，可達(dá)0.2-0.1nm，機(jī)型可實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨。
 

　　2.低壓透射電鏡
 

　　低壓小型透射電鏡(Low-Voltage electron microscope, LVEM)采用的電子束加速電壓(5kV)遠(yuǎn)低于大型透射電鏡。較低的加速電壓會(huì)增強(qiáng)電子束與樣品的作用強(qiáng)度，從而使圖像襯度、對(duì)比度提升，尤其適合高分子、生物等樣品；同時(shí)，低壓透射電鏡對(duì)樣品的損壞較小。
 

　　分辨率較大型電鏡低，1-2nm。由于采用低電壓，可以在一臺(tái)設(shè)備上整合透射電鏡、掃描電鏡與掃描透射電鏡。
 

　　3.冷凍電鏡
 

　　冷凍電鏡(Cryo-microscopy)通常是在普通透射電鏡上加裝樣品冷凍設(shè)備，將樣品冷卻到液氮溫度(77K)，用于觀測(cè)蛋白、生物切片等對(duì)溫度敏感的樣品。通過對(duì)樣品的冷凍，可以降低電子束對(duì)樣品的損傷，減小樣品的形變，從而得到更加真實(shí)的樣品形貌。