掃描電鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用,來(lái)激發(fā)各種物理信息,對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電鏡樣品臺(tái)在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。
掃描電鏡樣品臺(tái)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類(lèi)豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。目前,掃描電鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。
掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器,它廣泛應(yīng)用于觀察各種固態(tài)物質(zhì)的表面超微結(jié)構(gòu)的形態(tài)和組成。
所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對(duì)圖象象元掃掠的工作過(guò)程。它與電視一樣是由控制電子束偏轉(zhuǎn)的電子系統(tǒng)來(lái)完成的,只是在結(jié)構(gòu)和部件上稍有差異而已。
荷蘭DENSsolutions公司提供技術(shù)先進(jìn)的透射電鏡（TEM）樣品管理解決方案，為客戶提供快捷、可靠的納米尺度原位顯微工具。其應(yīng)用領(lǐng)域包含：納米材料原位加熱研究、碳基納米材料無(wú)損成像、金屬結(jié)構(gòu)、催化劑、陶瓷原位加熱研究等。產(chǎn)品包括原位TEM樣品加熱、電學(xué)、氣體以及液體系統(tǒng)等。
DENSsolutionsWildfire掃描電鏡樣品臺(tái)由樣品臺(tái)，控制器，以及計(jì)算機(jī)軟件程序等構(gòu)成，該設(shè)備使用四電極法閉合回路控制及反饋環(huán)境溫度以消除接觸電阻影響?？捎糜陔婄R樣品在不同的高溫條件下的結(jié)構(gòu)表征。該儀器主要在低維材料、納米技術(shù)、材料工程、能源材料及軟物質(zhì)等研究領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。
